什么是影像質(zhì)量指示器（IQIs）？
影像質(zhì)量指示器（IQIs），在射線照相中用來評(píng)估和量化影像質(zhì)量。在過去，人們認(rèn)為通過在曝光期間在測(cè)試對(duì)象上固定一個(gè)簡單的指示器，可以評(píng)估可檢測(cè)的最小缺陷。這種方法理論上可以保證能夠檢測(cè)到一定最小尺寸的缺陷，這個(gè)尺寸以材料厚度的百分比表示。然而，實(shí)踐證明這并不總是可行的。特別是對(duì)于小裂紋和其他二維缺陷，如果在X射線影像中找不到它們的任何跡象時(shí)，則永遠(yuǎn)無法保證它們實(shí)際上不存在。
然而，合理的預(yù)期是至少射線照片的質(zhì)量，當(dāng)然還有整個(gè)影像處理過程，需要滿足一定的要求。當(dāng)影像質(zhì)量高時(shí)，更容易檢測(cè)到缺陷的可能性較高。規(guī)范中描述的曝光技術(shù)和所需的影像質(zhì)量，取決于所涉及對(duì)象的使用用途。
為了能夠評(píng)估和量化射線照片的影像質(zhì)量，需要將其轉(zhuǎn)換為數(shù)值。為此，使用了“影像質(zhì)量指示器”（IQI），在美國被稱為“透度計(jì)”，在中國被稱為“像質(zhì)計(jì)”。影像質(zhì)量指示器通常由一系列直徑逐漸增大的金屬絲，或不同厚度的小板組成，這些小板上鉆有逐漸增大直徑的孔。
盡管規(guī)范對(duì)其技術(shù)的描述各不相同，但它們?cè)谝韵聨c(diǎn)上是一致的：
- ?影像質(zhì)量指示器應(yīng)放置在被檢查對(duì)象的源側(cè).
- 如果無法將放置在源側(cè)，則可以放置在膠片側(cè)。這種特殊情況必須在指示器上或直接鄰近指示器上標(biāo)注一個(gè)鉛字母“F”來表示，
- 指示器的材料必須與被檢查的材料相同。
例如，射線照片的影像質(zhì)量定義為仍然可見的最細(xì)絲的編號(hào)，通常說是具有“影像質(zhì)量數(shù)-X-”。
影像質(zhì)量也可以表示為所檢測(cè)物體厚度的百分比。
例如，如果肉眼可見的最細(xì)線的直徑為0.2毫米，且曝光點(diǎn)處的材料厚度為10毫米，則絲的可辨識(shí)性或可識(shí)別度為2%。
如上所強(qiáng)調(diào)的，使用IQI并不能保證檢測(cè)到同等大小的缺陷。
如果說因?yàn)樵谏渚€照片上可以看到被檢物體厚度2%的金屬絲，就也能檢測(cè)到類似大小的裂紋，這是不正確的。缺陷相對(duì)于X射線束的方向在其可辨識(shí)性方面起著重要作用（見第12.1節(jié)）。
IQI有多種類型，但最常用的四種是：
1. 絲型（在大多數(shù)歐洲國家使用）
2. 階梯孔型（在法國偶爾使用，但絲型也普遍被接受）
3. 鉆有孔的小板，稱為透度計(jì)，用于ASME工作，盡管ASME規(guī)范現(xiàn)在也包括絲型IQI。
4. 雙絲IQI。
在一些國家（例如日本和法國），使用額外的手段（如階梯塊）來驗(yàn)證對(duì)比度和檢查使用的kV值。
在（階梯）塊的位置，在膠片上穿透材料厚度的密度與等于標(biāo)稱壁厚的位置處的密度相比，必須有最小規(guī)定的密度差異。
符合EN 462-1的絲型IQI
EN 462-1標(biāo)準(zhǔn)化了四種絲型IQI。每個(gè)IQI由七根等距平行的不同直徑的絲組成，如圖1-13所示。
表1-13顯示了符合EN 462-01的四種IQI的絲組合。絲的直徑在表2-13中給出。
EN型IQI是用鋼、鋁、鈦或銅制成的絲制造的，具體取決于要檢查的材料類型。在每個(gè)IQI上都標(biāo)明了絲的材料。Fe表示鋼，Al表示鋁，Ti表示鈦，Cu表示銅。
