phoenix vtomex s240
多功能工業(yè) 2D X射線成像和3D CT 系統(tǒng)，用于高分辨檢測，功能更強，設計更優(yōu)。
進行精確和高效的檢測。
最暢銷的工業(yè) CT 主力軍
自 2003 年推出時，Phoenix V|tome|x S 就成為了首個實驗室規(guī)模的高分辨率微米和納米 CT? 系統(tǒng)。憑借其獨特的雙管 (Dual-tube) 配置選項，它迅速成為全球同類產品中最暢銷的 CT 系統(tǒng)，在全世界的研究機構和質量實驗室中安裝超過了500臺。
隨著這一經典機型的新一代產品的全新上市，客戶將受益于該系統(tǒng)的2D 檢測和 3D-CT檢測前所未有的多
種功能，將高分辨率、易用性和可靠性以及極高的性價比融于一體。
全新的 Phoenix VItomeIx S240 microCT 系統(tǒng)涵蓋了廣泛的一系列應用功能
掃描更快速，檢測更精確。
Phoenix V|tome|x S240 是全球為數(shù)不多的結合了高效的 Dynamic 41探測器技術和 High-flux|target 的 CT 系統(tǒng)之一，實現(xiàn)了更快的掃描速度和
更高的精度，從而達到更高圖像質量，真正改變了CT檢測技術 。我們提供了多種配置和可選工具，可幫助您以極高的精度實現(xiàn)更大的檢測
吞吐量目標。通過高通量靶 (High-flux|target) 和射束硬化校正技術來提高圖像質量，可以高效而輕松地提高檢測準確率 (POD)。
- Dual|tube
在微焦點和納米焦點 X 射線管之間快速便捷地切換，實現(xiàn)一機多用。 - Dynamic 41
高動態(tài)16寸數(shù)字平板探測器。 - DXR S100 Pro 探測器
可選的 DXR S100 Pro 探測器配備100 μm 尺寸的探元，使得系統(tǒng)具有卓越的分辨率。 - High-flux|target
通過更快的 microCT 掃描提高效率，或者在較小的焦點使用更高的功率將分辨率提高一倍。 - Helix|CT 螺旋CT
以更高的圖像質量進行掃描，可高效、便捷地提高檢測概率 (POD)。 - Offset|CT 偏置CT
可以提升 100% 的掃描體積，實現(xiàn)掃描尺寸更大的零件。 - 光束硬化校正
Multi|bhc 工具校正了條紋偽影，該偽影通常隨著多材料樣品中密集區(qū)域間出現(xiàn)多個暗條紋帶時出現(xiàn)。 - Phoenix Datos|x CT 軟件
輕松實現(xiàn)您的數(shù)據(jù)采集、大量處理和評估的完全自動化。 - 全面的2D檢測
機械手傾斜軸（+/-45°），可進行多方位的射線2D檢測。 - Flash!TM 圖像優(yōu)化
最新一代的缺陷識別技術，尤其適用于電子產品和鑄件的二維檢測。
微米和納米CT?是滿足您多用途檢測任務的解決方案。
無論您是需要提高檢測速度、精度，還是兩者兼而有之，PhoenixV|tome|x S240 都可以符合檢測要求，勝任更多3D 工業(yè)或科學microCT的分析任務。
為了具有更高的靈活性，V|tome|x S240 可選擇同時配備180kV/15 W 大功率納聚焦 X 射線管和 240 kV/320 W 微聚焦X 射線管。由于這種獨特的組合，該系統(tǒng)是廣泛應用于各種場景下的工業(yè)CT檢測，包括低吸收率材料的超高分辨率CT掃描，以及對直徑高達 500 毫米的高吸收率材料物體的 3D 分析。
工業(yè) 3D NDT
除了在研發(fā)和故障分析實驗室中進行高分辨率 3D 分析之外，該機器還可以對注塑件、小型鑄件、電子設備、傳感器、
電池、復雜復合材料和 3D 打印零件進行 3D 品質控制。而且借助 offset|CT，可實現(xiàn)更大掃描的容積和掃描更大尺寸的零件。
- 內部缺陷分析 / 3D 定量孔隙分析
- 裝配控制
- 材料結構分析
研究和開發(fā)
Phoenix V tome|x S240 具有高分辨率的180 kV nanoCT?選件，無需再進行準備、切片、涂層或真空處理，即可為亞微米級的研發(fā)提供無損的三維空間。
多工具的選擇令其更靈活、精準和易用。
Waygate Technologies 提供多種選配，可提高 CT 掃描的質量和生產率。
Dual|tube CT 雙能CT
為了擴大應用范圍，尤其是在研究和電子檢測任務中的應用范圍，V|tome|x S240 可以選擇配備附加的 180 kV 大功率納米聚焦 X 射線管，從而使 nanoCT? 的最佳細節(jié)檢測能力達到 200 納米。在幾分鐘之內，僅需按下按鈕，即可自動更換射線管。
Helix|CT 螺旋CT
Phoenix V|tome|x S240 能夠執(zhí)行螺旋（或螺旋）掃描，使您的試樣在 X 射線束中不斷向上移動。這使您可以更快地掃描更長的零件，而無需隨后將多個部分掃描結果縫合在一起。另一方面，由于消除了水平表面和縫合區(qū)域中的偽影，因此該采集技術可產生明顯更好的結果。
Offset|CT 偏置CT
憑借其 Offset|CT 掃描功能，諸如 V|tome|x S240 等緊湊型 CT 系統(tǒng)可以掃描比以往更大的零件或相同尺寸的零件，但分辨率卻更高。
程序與測量 (Click&measure)|CT
只需按下一個按鈕，您的整個 CT 過程鏈就可以完全實現(xiàn)自動化。它減少了操作員的時間和影響，同時極大地提高了生產率以及 CT 結果的可再現(xiàn)性。
測量與分析相結合
基于無損 CT 的坐標測量
與傳統(tǒng)的觸覺或光學坐標測量機 (CMM)相比，3D CT 具有很大的優(yōu)勢，尤其是處理表面不可見或棘手的復雜零件時。
- 標稱 – 實際 CAD 比較
- 尺寸測量 / 壁厚分析
- 首件檢測
- 工具補償
- 逆向工程 / 工具補償
基本參數(shù)
