我們認(rèn)真做科普：不同壁厚射線透照調(diào)整方法
對于壁厚差異不大的工件的射線照相，通常以平均厚度獲得膠片黑度不小于2來確定曝光時間。如果壁厚差異很大，膠片的某些部位可能曝光不足或者曝光過度，這可以通過所用膠片特征曲線的下半部分的形狀來解釋，膠片梯度（對比度）較低，相應(yīng)地缺陷識別度也低。 根據(jù)EN 1435，一次曝光所覆蓋的厚度范圍是有限的。
兩種方法：
有一些實用的方法可以防止較薄部位過度曝光和較厚部分曝光不足。 通常采用兩種方法：單膠片補償或者雙膠片技術(shù)。
對于單膠片透照，可以采用以下方法：
- 在X射線管上使用濾光片來降低對比度，增強輻射強度。
- 使用更高的管電壓或使用Ir192、Co60增加輻射能量，降低對比度。
- 使用與物體A 材料成分相似的材料B來補償壁厚差，見下圖1所示。
- 使用主要由金屬粉末組成的特殊膩子（填充材料）代替上面方法中的補償材料B。
當(dāng)使用雙膠片時，可以采用以下方法：
- 同時使用兩張感光度不同的膠片，但相似增感屏，進行單次透照。 比如使用Agfa D7和D4膠片。 這是最簡單、最實用的方法（見上圖2所示）。
- 同時透照帶有不同增感屏的Agfa D7和D4膠片（見上圖2所示）。
- 使用相同感光度的膠片和相同的增感屏，進行兩次透照：一次透照時間基于較薄部分，另一次透照時間基于較厚部分。
- 使用相同感光度的膠片但不同的增感屏，進行兩次透照。