工業(yè)射線照相成像的現有技術
在工業(yè)射線照相中，產生射線照片的常規(guī)程序是在被檢查對象的一側放置穿透性（電離）輻射源（X射線或伽馬射線），在另一側放置輻射探測器（膠片），如圖1-1所示。輻射的能量級別必須選擇得當，以確保足夠的輻射穿過對象并傳輸到探測器上。
探測器通常是一張放在防光密封信封或盒子里的照相膠片，其前表面非常薄，允許X射線輕松穿過。需要化學藥品來顯影膠片上的圖像，這就是為什么這個過程被稱為經典或“濕法”過程。
如今，越來越多地使用不同種類的輻射敏感膠片和探測器，這些探測器不需要使用化學藥品就能產生圖像，即所謂的“干法”過程。這些技術利用計算機，因此有了計算機輔助射線成像（CR）或直接數字射線成像（DR）等術語。
一種已經存在幾十年的與DR相關的技術，是借助（曾經無需計算機的）輻射探測器與監(jiān)視器屏幕（視覺顯示單元：VDU）形成圖像的技術。這實際上是DR的早期版本。這些透射掃描技術（稱為透視）的圖像存儲和圖像增強隨著計算機技術的逐步實施而不斷改進。如今，借助計算機的傳統(tǒng)透視檢查與完全計算機輔助的DR之間已不再有明確的界限。隨著時間的推移，DR將在一定程度上取代傳統(tǒng)透視檢查。
總的來說，穿過組件的輻射強度圖像可以記錄在：
傳統(tǒng)的X射線膠片上，通過化學顯影的“濕法”工藝，或以下的“干法”工藝之一：
- 帶有記憶磷光體的成像板和數字射線成像的工作站，稱為計算機輔助射線成像或CR。
- 平板探測器和直接射線成像的計算機工作站，稱為DR。
- 熒光屏或類似輻射敏感介質和閉路電視（CCTV）攝像機，在傳統(tǒng)熒光檢測中，是直接射線成像的早期版本。
- 通過輻射探測器，例如：晶體、光電二極管或半導體線性陣列，通過一系列測量構建移動對象的圖像。這種方法應用于機場行李檢查系統(tǒng)。
輻射源的物理尺寸應該很?。ㄖ睆綆缀撩祝捎赬射線從源通過樣品到膠片直線傳播，形成了樣品和不連續(xù)性的清晰“圖像”。這種幾何圖像形成與可見光源的陰影圖像相同。圖像的清晰度同樣取決于輻射源直徑和其距離形成圖像的表面的距離。
在防光暗袋（塑料或紙質）中的“經典”膠片通常緊貼在樣品后方，然后打開X射線適當時間（曝光時間），之后取出膠片進行照相處理，即顯影、定影、洗滌和干燥。在直接射線成像（DR）中，通過計算機化的顯示器直接形成連貫圖像。這兩種方法的共同點是負圖。材料少的地方（吸收少）允許更多X射線傳輸到膠片或探測器會導致密度增加。盡管形成圖像的方式有所不同，但圖像的解釋方式完全相同。因此，DR技術容易被接受。
“經典”膠片在經過光化學處理（濕法過程）后可以在觀片燈上查看。物體中的缺陷或不規(guī)則性導致膠片密度（亮度或透明度）的變化。曝光期間接收到更多輻射的膠片部分 – 例如在空腔下的區(qū)域 – 會顯得更黑，即膠片密度更高。數字成像提供相同色調的黑白圖像，但查看和解釋在計算機屏幕（VDU）上完成。
膠片上的圖像質量可以通過三個因素來評估：
- 對比度
- 清晰度
- 顆粒度
例如，考慮一個樣品，在表面加工了一系列不同深度的凹槽。射線照片上凹槽圖像與背景密度之間的密度差異稱為圖像對比度。對比度需要達到一定的最小值，凹槽才能變得可辨識。
對比度增加時：
a. 凹槽的圖像變得更容易可見
b. 較淺凹槽的圖像也將逐漸變得可辨識
假設凹槽有鋒利的加工邊緣，凹槽的圖像仍然可能是清晰或模糊的；這是第二個因素：圖像模糊，稱為圖像不清晰。
在圖像檢測的極限處，可以顯示對比度和不清晰度是相互關聯(lián)的，可檢測性取決于這兩個因素。
由于射線膠片上的圖像由銀顆粒組成，因此具有顆粒狀外觀，這取決于這些銀顆粒的大小和分布。圖像的這種顆粒外觀，稱為膠片顆粒度，也可以掩蓋圖像中的精細細節(jié)。
同樣，在所有其他圖像形成系統(tǒng)中，這三個因素是基本參數。在電子圖像形成中，例如帶有閉路電視和屏幕的數字射線成像或掃描系統(tǒng)，對比度、清晰度和噪聲等因素是圖像質量的衡量標準；像素大小和噪聲（電子）相當于顆粒度（像素大?。?/p>
三個因素：對比度、清晰度和顆粒度或噪聲是決定射線成像質量的基本參數。制作滿意的射線照相圖像的技術很大程度上與它們相關，并且它們會影響樣品中缺陷的可檢測性。
射線照片顯示圖像細節(jié)的能力稱為“射線成像靈敏度”。如果非常小的缺陷可以顯示出來，射線成像被認為具有高（好）的靈敏度。通常使用人工“缺陷”如絲或鉆孔來測量這種靈敏度。
