什么是康普頓背散射技術(shù)？
康普頓背散射技術(shù)，受益于在非破壞性檢測(NDT)設(shè)備中引入計算機(jī)技術(shù)，就像本章討論的其他方法一樣。
現(xiàn)在，它已經(jīng)是一種公認(rèn)的用于塑料和輕金屬的NDT技術(shù)。掃描器包括一個X射線管和一個由多個元件組成的探測器，如圖4-17所示。一個準(zhǔn)直器將射線束減小到0.5毫米直徑，因此它不能直接照射探測器上。
當(dāng)光子和電子在材料中碰撞時，初級X射線會在所有方向上散射為稍微軟的輻射，從而部分地從材料反射回掃描器。這種次級輻射隨后通過特制的光圈被探測器捕獲，參見圖4-17。
Object: 主體
Diaphragm:光圈
Collimator:瞄準(zhǔn)儀
Detector:檢測儀
X-ray beam: X射線束
探測器由20個或更多的探測器元件組成，如A’、B’、C’等，每個元件測量來自物體某一深度(A、B、C)的背散射輻射量，如圖4-17所示。每個傳感器元件都專注于某個特定深度。圓柱形掃描器尺寸僅為7 x 7厘米，并按網(wǎng)格掃描物體。通過將掃描系統(tǒng)與數(shù)據(jù)處理器連接，一個全面的“康普頓圖像”會展現(xiàn)出物體及其可能存在的缺陷。這種方法的優(yōu)勢是物體只需從一側(cè)進(jìn)入。例如，它經(jīng)常用于蜂窩結(jié)構(gòu)和復(fù)合材料，穿透深度約為50毫米。該方法（仍然）相當(dāng)緩慢；掃描一個50平方厘米的表面大約需要5分鐘。然而，另一個優(yōu)點是，由于每個單獨探測器元件的“準(zhǔn)焦點”，缺陷的深度位置能迅速被探知。